GBPI高壓加速老化箱(飽和)

簡要描述：

GBPI高壓加速老化箱(飽和)加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

產(chǎn)品型號：OPCT-40A
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-07-25
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GBPI高壓加速老化箱(飽和)設(shè)備概述

加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB 試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT 和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。

GBPI高壓加速老化箱(飽和)技術(shù)參數(shù)

試樣限制	本試驗設(shè)備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存生物試樣的試驗或儲存、強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存
規(guī)格尺寸&性能
內(nèi)箱尺寸	Φ400*D550mm(圓桶型Φ代表直徑、D代表深度)
外箱尺寸	W850H1620D1130mm以物實為準
溫度范圍	+105℃~143℃
濕度范圍	飽和型99.99R.H
壓力范圍	0~3.0kg/cm2(相對壓力)
升溫時間	RT(常溫) →143℃ 濕度99.99R.H約45min
溫度波動度	±0.5℃
溫度均勻度	±2℃
滿足試驗標準	IEC60068-2-66 1994 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱等標準……
結(jié)構(gòu)特征